海派世通的FlashXE®可實現3D NAND的最大可靠性

德國康斯坦茨，2019 年3 月28 日 - 隨著海派世通最新X1低功耗SSD控制器的推出，海派世通推出了最新技術--FlashXE®eXtendedEndurance。FlashXE®是一種功能集，包括廣泛的校準，糾錯恢復，錯誤避免和刷新機制，以確保基於NAND閃存的存儲系統的最大可靠性。隨著NAND 閃存的成本降低以及3D NAND 等新技術進入市場，管理該介質所需的技術和算法需要推進。因此，糾錯和複雜的閃存管理要求從未如此之高。 FlashXE®生態系統通過不同機制和算法的複雜環境來解決這些問題，以防止，檢測和糾正錯誤。

在錯誤發生或系統組裝前就開始了功能，機制和流程的集合。資格認證過程以每種支持的閃存類型在其生命週期和不同的工作溫度為特點。然後，該知識在固件的基本閃存支持中實現，並隨控制器一起提供。在操作期間的下一階段確保控制器在閃存的壽命期間連續調整讀出電路的電壓電平。控制器還採取進一步措施來防止諸如動態數據刷新，近乎丟失的ECC 和讀取干擾管理之類的錯誤。在後續階段，儘管採取了前面提到的預防措施，但在兩個單獨的模塊中存在嚴重的錯誤糾正，一個基於BCH代碼以及新的通用級聯代碼（GCC），並支持軟解碼。

“在控制器設計和操作的不同階段實施了各種最先進的功能，確保存儲解決方案的極高可靠性”。海派世通產品經理Sandro-Diego Wölfle 表示。“最終，我們的目標是將閃存的可靠性提高到所有存儲供應商因為知道他們的系統有海派世通的控制器支持而感到安全可靠”。 FlashXE®集體系統可與海派世通最新的閃存控制器X1 一起使用。 X1 是一款高效，低功耗的SSD 控制器，適用於堅固耐用且符合工業要求的基於NAND閃存的存儲解決方案。